High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

٥٤٩٫٠٠ ر.ق.‏
+ ١١٢٫٤٩ ر.ق.‏ الشحن

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

البائع:
  • product image

٥٤٩٫٠٠ ر.ق.‏

في المخزون
+ ١١٢٫٤٩ ر.ق.‏ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

The Rapid Growth In The Applications Of Electronic Materials Has Created An Increasing Demand For Reliable Techniques For Examining And Characterizing These Materials. This Book Explores The Area Of X-ray Diffraction And The Techniques Available For Deployment In Research, Development, And Production. It Maps The Theoretical And Practical Background Necessary To Study Single Crystal Materials Using High Resolution X-ray Diffraction And Topography.
  • العلامة التجارية: Taylor & Francis Ltd
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Paperback
  • اللغة: English
  • المؤلف: D.K. Bowen
  • عدد الصفحات: 264
  • تاريخ النشر: 2019-10-10
  • الناشر/ العنوان: Taylor & Francis Ltd
  • هوية Fruugo: 550920494-1115598663
  • ISBN: 9780367400637
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١١٢٫٤٩ ر.ق.‏ - التسليم بين الثلاثاء 27 أكتوبر 2026 – الثلاثاء 24 نوفمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة