Cmos Gate-stack Scaling - Materials Interfaces And Reliability Implications

٦٧٤٫٠٠ ر.ق.‏
+ ١١٣٫٤٩ ر.ق.‏ الشحن

Cmos Gate-stack Scaling - Materials Interfaces And Reliability Implications

البائع:
  • product image

٦٧٤٫٠٠ ر.ق.‏

في المخزون
+ ١١٣٫٤٩ ر.ق.‏ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Cmos Gate-stack Scaling - Materials Interfaces And Reliability Implications

The Mrs Symposium Proceeding Series Is An Internationally Recognised Reference Suitable For Researchers And Practitioners.
  • العلامة التجارية: Cambridge University Press
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Hardcover
  • اللغة: English
  • المؤلف: Cambridge University Press
  • عدد الصفحات: 194
  • تاريخ النشر: 2016-10-14
  • الناشر/ العنوان: Cambridge University Press
  • هوية Fruugo: 557077165-1125346088
  • ISBN: 9781605111285
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١١٣٫٤٩ ر.ق.‏ - التسليم بين الاثنين 09 نوفمبر 2026 – الاثنين 07 ديسمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة